Plataforma para testes e qualificação de dispositivos reconfiguráveis e sistemas em chip, submetidos aos efeitos combinados da interferência eletromagnética e da radiação ionizante

Detalhes bibliográficos
Ano de defesa: 2015
Autor(a) principal: Benfica, Juliano D'Ornelas
Orientador(a): Não Informado pela instituição
Banca de defesa: Não Informado pela instituição
Tipo de documento: Tese
Tipo de acesso: Acesso aberto
Idioma: por
Instituição de defesa: Não Informado pela instituição
Programa de Pós-Graduação: Não Informado pela instituição
Departamento: Não Informado pela instituição
País: Não Informado pela instituição
Palavras-chave em Português:
Link de acesso: https://repositorio.ufsc.br/xmlui/handle/123456789/169285
Resumo: Tese (doutorado) - Universidade Federal de Santa Catarina, Centro Tecnológico, Programa de Pós-Graduação em Engenharia Elétrica, Florianópolis, 2015.