Eosi: um modelo para desenvolvimento de sistemas embarcados tolerantes a falhas

• Ano de defesa: 2009
• Autor(a) principal: Morais, Antonio Higor Freire de
• Orientador(a): Brandão, Gláucio Bezerra
• Tipo de documento: Dissertação
• Tipo de acesso: Acesso aberto
• Idioma: por
• Instituição de defesa: Universidade Federal do Rio Grande do Norte
• Programa de Pós-Graduação: Programa de Pós-Graduação em Engenharia Elétrica
• Departamento: Automação e Sistemas; Engenharia de Computação; Telecomunicações
• País: BR
• Palavras-chave em Português: Tolerância a falha; Sistemas embarcados; FPGA
• Palavras-chave em Inglês: Fault Tolerant; Embedded Systems; FPGA.
• Área do conhecimento CNPq: CNPQ::ENGENHARIAS::ENGENHARIA ELETRICA
• Link de acesso: https://repositorio.ufrn.br/jspui/handle/123456789/15284

The semiconductor technologies evolutions leads devices to be developed with higher processing capability. Thus, those components have been used widely in more fields. Many industrial environment such as: oils, mines, automotives and hospitals are frequently using those devices on theirs process. Those industries activities are direct related to environment and health safe. So, it is quite important that those systems have extra safe features yield more reliability, safe and availability. The reference model eOSI that will be presented by this work is aimed to allow the development of systems under a new view perspective which can improve and make simpler the choice of strategies for fault tolerant. As a way to validate the model na architecture FPGA-based was developed.