O valor do reflexo estapédico evocado eletricamente na determinação dos limiares de conforto do implante coclear

Detalhes bibliográficos
Ano de defesa: 2014
Autor(a) principal: ANDRADE, Kelly Cristina Lira de
Orientador(a): LEAL, Mariana de Carvalho
Banca de defesa: Não Informado pela instituição
Tipo de documento: Dissertação
Tipo de acesso: Acesso aberto
Idioma: por
Instituição de defesa: Universidade Federal de Pernambuco
Programa de Pós-Graduação: Não Informado pela instituição
Departamento: Não Informado pela instituição
País: Não Informado pela instituição
Palavras-chave em Português:
Link de acesso: https://repositorio.ufpe.br/handle/123456789/13162
Resumo: A determinação da área dinâmica é um dos procedimentos mais importantes na programação do implante coclear (IC). O uso de medidas objetivas, como a pesquisa do limiar do reflexo estapédico evocado eletricamente (LREEE) pode contribuir para a definição do campo dinâmico, pois fornecem valores específicos que servem como base para o início do processo de mapeamento dos eletrodos. O objetivo principal do estudo foi avaliar a relação entre o LREEE e os níveis máximos de conforto de estimulação elétrica dos eletrodos (nível C) no pós-operatório em usuários de IC. Foram avaliados 24 sujeitos submetidos à cirurgia de IC e que conseguissem definir com consistência os níveis C no pós-operatório. Trata-se de um estudo do tipo transversal, observacional, analítico e do tipo série de casos. Os resultados demonstraram que os valores médios dos LREEE foram mais elevados do que os valores médios do nível C, contudo, não houve diferença significativa entre os valores encontrados entre eles, quando estudados os eletrodos 1, 6, 11 e 16. Os dados obtidos reforçam o uso do procedimento para a definição de valores dos níveis C, assim como tornou possível a mensuração de fatores de correções, que variaram de 6 a 25,6 uc. O uso dos LREEE auxilia a equipe responsável pela programação do IC, tornando o processo mais rápido e seguro, principalmente para crianças ou indivíduos com múltiplos comprometimentos.