Detalhes bibliográficos
Ano de defesa: |
2016 |
Autor(a) principal: |
CARVALHO, Joao Alberto Batista de |
Orientador(a): |
SILVA, Daniel Carneiro da |
Banca de defesa: |
Não Informado pela instituição |
Tipo de documento: |
Dissertação
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Tipo de acesso: |
Acesso aberto |
Idioma: |
por |
Instituição de defesa: |
Universidade Federal de Pernambuco
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Programa de Pós-Graduação: |
Programa de Pos Graduacao em Ciencias Geodesicas e Tecnologias da Geoinformacao
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Departamento: |
Não Informado pela instituição
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País: |
Brasil
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Palavras-chave em Português: |
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Link de acesso: |
https://repositorio.ufpe.br/handle/123456789/24541
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Resumo: |
Os Modelos Digitais de Elevação (MDE) podem ser definidos como uma superfície matemática que representa de forma contínua a superfície terrestre. Estes possuem diversas aplicações em várias áreas das Geociências. Devida a sua importância, o MDE necessita ter um rigoroso processo de avaliação de qualidade, de forma a garantir o seu grau de aderência a superfície topográfica. No Brasil, o estimador de qualidade utilizado consiste no Padrão de Exatidão Cartográfica (PEC), atualizado posteriormente para Padrão de Exatidão Cartográfica dos Produtos Cartográficos Digitais (PEC-PCD). De forma complementar, também são utilizados para avaliação da acurácia testes de precisão e tendência. Diversas normas internacionais abordam a avaliação da qualidade altimétrica do MDE. Em especial, percebe-se nestas normas que a distribuição dos erros altimétricos é considerada não necessariamente como normal, o que gera padrões baseados em medidas como o percentil. Alguns autores consideram que a presença de valores outliers afetam a distribuição dos erros altimétricos, tornando-as não normal, além de influenciar em medidas como média e desvio-padrão. Este trabalho tem como objetivo verificar a hipótese de que a distribuição dos erros altimétricos de MDE não segue necessariamente a distribuição normal, bem como analisar a influência dos valores outliers em medidas estatísticas de dispersão e tendência central, nos valores dos testes de tendência e precisão e no processo de classificação do PEC-PCD. |