Estudo in-situ de filmes ultrafinos de óxidos de ferro sobre Ag(100) por técnicas de superfície
Ano de defesa: | 2006 |
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Autor(a) principal: | |
Orientador(a): | |
Banca de defesa: | |
Tipo de documento: | Dissertação |
Tipo de acesso: | Acesso aberto |
Idioma: | por |
Instituição de defesa: |
Universidade Federal de Minas Gerais
UFMG |
Programa de Pós-Graduação: |
Não Informado pela instituição
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Departamento: |
Não Informado pela instituição
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País: |
Não Informado pela instituição
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Palavras-chave em Português: | |
Link de acesso: | http://hdl.handle.net/1843/IACO-6W2QS3 |
Resumo: | A produção e caracterização de filmes ultra finos de óxidos de Fé crescidos por epitaxia de feixe molecular (BEM) sobre a superfície Ag (100) em condições de ultra-alto-vácuo foi realizada com o principal objetivo de se produzir a fase FeO. Orientado na direção (100) e com excelente qualidade cristalográfica. Os filmes foram preparados com 57 Fe de alta pureza e analisados in-situ das técnicas de Difração de Elétrons de Baixa Energia (LEED), Espectroscopia de Fotoelétrons excitados por raios-X (XPS) e Espectroscopia Mössbauer (CEMS). Nas preparações foram variadas a taxa de evaporação de Fe, a pressão parcial de O2 e a espessura do filme. Através dos espectros de fotoemissão e dos padrões de difração LEED investigou-se a composição das superfícies dos filmes formados e sua cristalografia, enquanto a quantificação dos óxidos produzidos foi realizada por espectroscopia Mössbauer a temperatura ambiente. As análise revelaram que ao longo de várias preparações uma mistura da fases FeO e Fe3 O4 é em geral obtida e assim foram determinados os parâmetros mais relevantes para a obtenção do óxido desejado (FeO). Além da fase paramagnética, a fase antiferromagnética de filmes de FeO foi caracterizada por espectroscopia Mössbauer em medidas abaixo de sua temperatura de Néel (198K). Foram preparadas amostras com um percentual de até 90% de FeO e foi constatado que o fatores determinantes para a obtenção desta fase são o tempo e principalmente a temperatura de annealing, que deve ser maior ou igual a 580°C. |