Geração evolucionária de heurísticas para localização de defeitos de software
Ano de defesa: | 2018 |
---|---|
Autor(a) principal: | |
Orientador(a): | |
Banca de defesa: | |
Tipo de documento: | Dissertação |
Tipo de acesso: | Acesso aberto |
Idioma: | por |
Instituição de defesa: |
Universidade Federal de Goiás
Instituto de Informática - INF (RG) Brasil UFG Programa de Pós-graduação em Ciência da Computação (INF) |
Programa de Pós-Graduação: |
Não Informado pela instituição
|
Departamento: |
Não Informado pela instituição
|
País: |
Não Informado pela instituição
|
Palavras-chave em Português: | |
Link de acesso: | http://repositorio.bc.ufg.br/tede/handle/tede/9010 |
Resumo: | Localização de Defeitos é uma etapa do ciclo de vida de software, que demanda recursos importantes tais como o tempo e o esforço gastos em um projeto. Existem diversas iniciativas na direção da automação do processo de localização de defeitos e da redução dos recursos associados. Muitas técnicas são baseadas heurísticas que utilizam informação obtida (espectro) a partir da execução de casos de teste, visando a medir a suspeita de cada elemento de programa para ser defeituoso. Os dados de espectro referem-se, em geral, à cobertura de código e aos resultados dos teste (positivo ou negativo). O presente trabalho apresenta duas abordagens baseadas no algoritmo Programação Genética para o problema de Localização de Defeitos: um método para compor automaticamente novas heurísticas a partir de um conjunto de heurísticas existentes; e um método para a construção de heurísticas baseadas em dados oriundos da análise de mutação de programas. Os aspectos inovadores de ambos os métodos referem-se à investigação conjunta de: (i) especialização de heurísticas para determinados programas; (ii) aplicação de abordagem evolutiva para a geração de heurísticas com equações não lineares; (iii) criação de heurísticas a partir da combinação de heurísticas tradicionais; (iv) uso de espectro de cobertura e de mutação extraídos da atividade de teste; (v) análise e comparação da eficácia de métodos que usam os espectros de cobertura e de mutação para a localização de defeitos; e (vi) análise da qualidade dos espectros de mutação como fonte de dados para a localização de defeitos. Os resultados apontaram competitividade de ambas as abordagens em seus contextos. |