Espaço de parâmetros de dois circuitos de Chua sincronizados.

Detalhes bibliográficos
Ano de defesa: 2018
Autor(a) principal: SOUZA, João Paulo Araújo
Orientador(a): Não Informado pela instituição
Banca de defesa: Não Informado pela instituição
Tipo de documento: Dissertação
Tipo de acesso: Acesso aberto
Idioma: por
Instituição de defesa: Não Informado pela instituição
Programa de Pós-Graduação: Programa de Pós-Graduação: Mestrado - Física
Departamento: IFQ - Instituto de Física e Química
País: Não Informado pela instituição
Link de acesso: https://repositorio.unifei.edu.br/jspui/handle/123456789/1085
Resumo: Nesta dissertação são apresentados os resultados do estudo do espaço de parâmetros da periodicidade experimental, expoente de Lyapunov simulado e experimental e faixa de resistência no qual dois circuitos de Chua se sincronizam. A simulação foi realizada através do software Fortran, no qual contribui para as análises dos resultados experimentais. Com o desenvolvimento do programa no software Labview® foram obtidas séries temporais que descrevem o sistema experimental. Para montagem experimental foram construídos dois circuitos de Chua e cinco potenciômetros. Os potenciômetros são os parâmetros de controle do nosso sistema definido como R e rl, no qual R tem variação de sua resistência no passo de 1Ω e rl no passo de 0,1Ω. Para análise dos resultados experimentais, foram desenvolvidos programas em Labview® e scripts em Python que fizeram análise das series temporais no qual foram obtidos resultados como periodicidade, maior expoente de Lyapunov e como simulação obtivemos, dimensão de Kaplan-Yorke e entropia de Kolmogorov-Sinai. Os resultados das analises foram representados na forma de espaço de parâmetros. Medições de sincronismo para dois circuitos de Chua acoplados foram realizadas para identificar a intensidade do acoplamento em função da resistência de acoplamento. Simulações do espaço de parâmetros, numa condição de acoplamento com travamento de fase foram utilizadas permitindo identificar as mesmas estruturas observadas para circuitos desacoplados.