Correlação entre vetores de teste para falhas Stuck-at e Stuck-open em circuitos digitais com alto teste incorporado

• Ano de defesa: 1997
• Autor(a) principal: CÂNDIDO, Marcos Rogério
• Orientador(a): PIMENTA, Tales Cleber
• Tipo de documento: Dissertação
• Tipo de acesso: Acesso aberto
• Idioma: por
• Instituição de defesa: Universidade Federal de Itajubá
• Programa de Pós-Graduação: Programa de Pós-Graduação: Mestrado - Engenharia Elétrica
• Departamento: IESTI - Instituto de Engenharia de Sistemas e Tecnologia da Informação
• País: Brasil
• Palavras-chave em Português: Circuitos digitais; Teste para falhas Stuck-at e Stuck-open; Estrutura BIST; Modelamento de falhas
• Área do conhecimento CNPq: CNPQ::ENGENHARIAS::ENGENHARIA ELÉTRICA
• Link de acesso: https://repositorio.unifei.edu.br/jspui/handle/123456789/2901

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