Caracterização térmica e estrutural de ligas Ni50Ti50-XHfX .at% com efeito memória de forma.
Ano de defesa: | 2019 |
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Autor(a) principal: | |
Orientador(a): | |
Banca de defesa: | |
Tipo de documento: | Tese |
Tipo de acesso: | Acesso aberto |
Idioma: | por |
Instituição de defesa: |
Universidade Federal de Campina Grande
Brasil Centro de Ciências e Tecnologia - CCT PÓS-GRADUAÇÃO EM CIÊNCIA E ENGENHARIA DE MATERIAIS UFCG |
Programa de Pós-Graduação: |
Não Informado pela instituição
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Departamento: |
Não Informado pela instituição
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País: |
Não Informado pela instituição
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Palavras-chave em Português: | |
Link de acesso: | http://dspace.sti.ufcg.edu.br:8080/jspui/handle/riufcg/35685 |
Resumo: | O presente estudo teve por objetivo central a obtenção de ligas Ni50Ti50-XHfX .at% com EMF por meio de três tipos de processamentos: ( i ) fundição ao arco de plasma (método SPP - Skull Push-Pull) na câmera EDG Discovery All Metal; ( ii ) solidificação rápida pelo método melt-spinning; ( iii ) fusão ao arco elétrico (arc melting). Depois, segue-se a caracterização térmica (por meio da técnica DSC) e microestrutural (por efeito dos ensaios DRX, MO e MEV/EDS). Na caracterização térmica foram registradas e discutidas as temperaturas de transformação [TTs], fluxos de calor [W/g], densidades energéticas [J/g] e histereses térmicas [ΔP e ΔT]. Esses resultados foram correlacionados com as análises qualitatitavas e quantitativas de fases que foram detectadas por meio de DRX nas 5 composições substitucionais estudadas (Hf = 8, 11, 14, 17 e 20 .at%). O método Rietveld foi usado para fazer refinamento de estrutura e determinação de variáveis tais quais densidade específica, percentual de fases, parâmetros de rede [a b c; α ȕ Ȗ], indexação de planos cristalográficos (h k ), cálculo do grau relativo de cristalinidade [Xc] e percentual amorfo, além de mensurar as composições químicas das fases observadas. Com base em regressões não-lineares, os resultados dos experimentos de difração de raios X foram ainda utilizados como ferramenta estatística para estabelecer uma relação matemática entre a distância interplanar [d, Å] & fração de identificação cristalina 1/d2 com o ângulo de Bragg [βș, o]. Posteriormente, as amostras embutidas à frio foram atacadas quimicamente para observação por meio de microscopia óptica (MO) e microscopia eletrônica de varredura (MEV) a fim de se observar aspectos superficiais, texturas, contornos e tamanhos de grão (largura, comprimento, perímetro e área). A técnica EDS foi usada para determinação da percentagem atômica (.at%) dos elementos das ligas em áreas específicas. Demonstrou-se nesse trabalho que apesar das ligas ricas em Ni terem sido preparadas com a mesma metodologia, mesmos materiais e composições nominais, os resultados térmicos e microestruturais foram considerados bem distintos, com peculiaridades que direcionam a discussão individualizada em cada um dos 3 processamentos. |