Caracterização térmica e estrutural de ligas Ni50Ti50-XHfX .at% com efeito memória de forma.

• Ano de defesa: 2019
• Autor(a) principal: SOARES, Roniere Leite.
• Tipo de documento: Tese
• Tipo de acesso: Acesso aberto
• Idioma: por
• Instituição de defesa: Universidade Federal de Campina Grande; Brasil; Centro de Ciências e Tecnologia - CCT; PÓS-GRADUAÇÃO EM CIÊNCIA E ENGENHARIA DE MATERIAIS; UFCG
• Palavras-chave em Português: Arco elétrico; Fusão ao arco de plasma; Liga de memória de forma; Melt-spinning; Electric arc; Plasma arc fusion; Alloy memory form; Arco eléctrico; Fusión por arco de plasma; Memoria de aleación molde; Hilado fundido; Ni-Ti-Hf; Engenharia de materiais
• Link de acesso: http://dspace.sti.ufcg.edu.br:8080/jspui/handle/riufcg/35685

O presente estudo teve por objetivo central a obtenção de ligas Ni50Ti50-XHfX .at% com EMF por meio de três tipos de processamentos: ( i ) fundição ao arco de plasma (método SPP - Skull Push-Pull) na câmera EDG Discovery All Metal; ( ii ) solidificação rápida pelo método melt-spinning; ( iii ) fusão ao arco elétrico (arc melting). Depois, segue-se a caracterização térmica (por meio da técnica DSC) e microestrutural (por efeito dos ensaios DRX, MO e MEV/EDS). Na caracterização térmica foram registradas e discutidas as temperaturas de transformação [TTs], fluxos de calor [W/g], densidades energéticas [J/g] e histereses térmicas [ΔP e ΔT]. Esses resultados foram correlacionados com as análises qualitatitavas e quantitativas de fases que foram detectadas por meio de DRX nas 5 composições substitucionais estudadas (Hf = 8, 11, 14, 17 e 20 .at%). O método Rietveld foi usado para fazer refinamento de estrutura e determinação de variáveis tais quais densidade específica, percentual de fases, parâmetros de rede [a b c; α ȕ Ȗ], indexação de planos cristalográficos (h k ), cálculo do grau relativo de cristalinidade [Xc] e percentual amorfo, além de mensurar as composições químicas das fases observadas. Com base em regressões não-lineares, os resultados dos experimentos de difração de raios X foram ainda utilizados como ferramenta estatística para estabelecer uma relação matemática entre a distância interplanar [d, Å] & fração de identificação cristalina 1/d2 com o ângulo de Bragg [βș, o]. Posteriormente, as amostras embutidas à frio foram atacadas quimicamente para observação por meio de microscopia óptica (MO) e microscopia eletrônica de varredura (MEV) a fim de se observar aspectos superficiais, texturas, contornos e tamanhos de grão (largura, comprimento, perímetro e área). A técnica EDS foi usada para determinação da percentagem atômica (.at%) dos elementos das ligas em áreas específicas. Demonstrou-se nesse trabalho que apesar das ligas ricas em Ni terem sido preparadas com a mesma metodologia, mesmos materiais e composições nominais, os resultados térmicos e microestruturais foram considerados bem distintos, com peculiaridades que direcionam a discussão individualizada em cada um dos 3 processamentos.