Metrologia da captura e reprodução de rastros de sistemas de arquivos.

• Ano de defesa: 2016
• Autor(a) principal: SILVA, Thiago Emmanuel Pereira da Cunha.
• Tipo de documento: Tese
• Tipo de acesso: Acesso aberto
• Idioma: por
• Instituição de defesa: Universidade Federal de Campina Grande; Brasil; Centro de Engenharia Elétrica e Informática - CEEI; PÓS-GRADUAÇÃO EM CIÊNCIA DA COMPUTAÇÃO; UFCG
• Palavras-chave em Português: Ciência da Computação - Metrologia; Sistemas de Arquivos; Avaliação de Desempenho; Ciências; Ciência da Computação
• Link de acesso: http://dspace.sti.ufcg.edu.br:8080/jspui/handle/riufcg/886

Métodos para avaliação de desempenho têm, por por muitos anos, apoiado a adoção, desenvolvimento e operação de sistemas de arquivos. Em particular, a reprodução de rastros de utilização é um método bastante popular. Apesar de sua popularidade, alguns trabalhos produzidos recentemente contestam — embora sem comprovação empírica — a qualidade dos resultados obtidos com esse método. Em nossa opinião,este ceticismo se deve, em larga medida, à falta de métodos suficientemente embasados para detectar e quantificar os erros das medições baseadas em reproduções de rastros. Uma vez que não sabemos como diagnosticar o problema, é provável que novos trabalhos adotem métodos de reprodução inadequados ou criem novos métodos sem preocupações metodológicas mais amplas. Em outras palavras, estamos fadados a repetir os erros anteriores ou introduzir novos erros. Nossa tese é que podemos usar metrologia — a ciência de obter boas estimativas para medições conduzidas por meio de instrumentos de medição imperfeitos — para melhorar a qualidade da avaliação de desempenho de sistemas de arquivos baseada em rastros. Neste documento, desenvolvemos esta tese por meio de duas provas de conceito. A primeira considera métodos de captura de rastros, enquanto a segunda considera métodos de reprodução de rastros. Em ambas, consideramos ferramentas populares descritas na literatura. Na primeira prova de conceito, ao aplicar o protocolo de metrologia, descobrimos fontes de erro que tornam as medições de captura de rastros bastante tendenciosas, embora precisas. Nós também mostramos como compensar as fontes de erro por meio de um processo de calibração — prática ausente na literatura. Ainda, descobrimos que os métodos de captura são sensíveis ao efeitos de cargas de fundo, as quais, quando não identificadas, podem comprometer o processo de calibração. Na segunda, o protocolo de metrologia também nos permitiu observar fontes de erros que enfraquecem a qualidade das medições de reprodução. Embora o procedimento de calibração não seja aplicável na segunda prova de conceito, nossos resultados apontaram limitações nas ferramentas de reprodução que quando reconsideradas, permitiram a melhoria na qualidade dos métodos considerados.