Detalhes bibliográficos
| Ano de defesa: |
2021 |
| Autor(a) principal: |
Nascimento, Matheus Andrade
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| Orientador(a): |
Rios, Débora Correia
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| Banca de defesa: |
Atêncio, Daniel
,
Sasaki, José Marcos
,
Garcia, Pedro Maciel de Paula
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| Tipo de documento: |
Dissertação
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| Tipo de acesso: |
Acesso aberto |
| Idioma: |
por |
| Instituição de defesa: |
Universidade Federal da Bahia
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| Programa de Pós-Graduação: |
Programa de Pós-Graduação em Geologia (PGGEOLOGIA)
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| Departamento: |
Instituto de Geociências
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| País: |
Brasil
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| Palavras-chave em Português: |
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| Área do conhecimento CNPq: |
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| Link de acesso: |
https://repositorio.ufba.br/handle/ri/34757
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Resumo: |
A análise qualitativa através da difração de raios X se iniciou a partir de estudos de William H.Bragg, que observou que este fenômeno, causado quando um feixe de raios X monocromáticos incide sobre um material cristalino, ocorre o fenômeno da difração que pode ser utilizado para a identificação mineralógica. Assim, para analisar as fases cristalinas que estão presentes em um material pulverizado analisado, é feito um difratograma, que é um gráfico de intensidade observada em relação ao ângulo de espalhamento. Com o difratograma são calculados os picos de máxima intensidade. O método de Rietveld foi criado em 1969 por Hugo M. Rietveld, foi inicialmente idealizado por Hugo. M Rietveld, foi inicialmente idealizado para o refinamento da interpretação de dados dos difratogramas gerados a partir da difração de nêutrons e posteriormente aplicado a difração de raios X. O método permite calcular o difratograma ponto a ponto de uma determinada amostra através de um algoritmo com um padrão difratométrico adequado à fase que se pretende estudar, aplicando para isto o método matemático dos mínimos quadrados. Assim, comparando os picos experimentais obtidos na amostra desconhecida e o padrão de pontos calculados é possível se identificar e obter os valores das dimensões da célula unitária. Alguns destes valores podem ser encontrados em artigos que reportam estruturas similares. O estudo petrográfico clássico em kimberlitos é dificultado pela presença da mineralogia exótica, xenólitos, xenocristais, e minerais de origem mantélica pouco conhecidos. Além disto a geoquímica destas rochas, com riqueza de voláteis, favorece os processos tardios de serpentinização, carbonatização e oxidação, transformando as rochas expostas em superfície e impossibilitando muitas vezes a correta identificação das fases minerais presentes na amostra. Por estes motivos, o refinamento das análises por difratometria de raios X através do método de Rietveld é uma poderosa ferramenta na interpretação petrográfica de rochas de mineralogia exótica e alterada. Tais informações são essenciais para uma melhor compreensão da natureza e gênese deste importante prospecto mineral. Este estudo tem o objetivo de aplicar o método de quantificação de Rietveld através de análises por difratometria de raios X no método do pó-total para ampliar o entendimento sobre a petrografia do Lamproíto Aroeira. Para isso foi utilizado o software que DIFRAC.TOPPAS no laboratório de tecnologia mineral de raios X (LAPAG- UFBA). A metodologia de trabalho desenvolvida neste estudo focou na seleção de duas amostras representativas do Lamproíto Aroeira. Estas duas amostras foram laminadas em três direções ortogonais, obtendo-se assim 6 lâminas polido-delgadas e 6 tabletes destas mesmas frações, os quais foram moídos e geraram o pó analisado por DRX. Assim, o estudo da petrografia juntamente com o a aplicação do método de Rietveld no seu respectivo pó trouxe uma confiabilidade maior as descrições petrograficas e a identificação de fases exóticas e serpentinizadas. |
