Estudo de topologias de circuitos de controle para redução da degradação do sinal de saída do circuito de pixel 3T APS

• Ano de defesa: 2020
• Autor(a) principal: Souza, Wariton Pereira de
• Outros Autores: http://lattes.cnpq.br/2242852143869727
• Tipo de documento: Dissertação
• Tipo de acesso: Acesso aberto
• Idioma: por
• Instituição de defesa: Universidade Federal do Amazonas; Faculdade de Tecnologia; Brasil; UFAM; Programa de Pós-graduação em Engenharia Elétrica
• Palavras-chave em Português: ENGENHARIAS: ENGENHARIA ELETRICA; Resistividade; Degradação; Circuitos de Controle de Píxel; Sinal de Controle ERDR
• Link de acesso: https://tede.ufam.edu.br/handle/tede/8644

Este trabalho apresenta um estudo sobre topologias de circuitos de controle para redução da degradação do sinal de saída do circuito de píxel 3T-APS (Sensor de Píxel Ativo de Três Transistores), devido à resistividade do transistor de reset que se localiza dentro do píxel. O trabalho é dividido em três cenários: estudo da descarga de um píxel utilizando fontes ideais de alimentação e de sinais de controle, estudo da descarga de um píxel utilizando circuitos eletrônicos transistorizados que geram os sinais de controle e circuitos divisores de tensão que geram níveis mínimos de referência e, por último, a apresentação de uma nova topologia de circuito de controle, incluindo avaliação e comparação da descarga do píxel da topologia proposta com a existente. Também serão investigados os possíveis efeitos deletérios que podem ocorrer devido à variação de temperatura incidente sobre o píxel, a qual se evidenciará por meio da ferramenta de Monte Carlo.