Investigando a influência da temperatura de sinterização na topografia em nanoescala 3D de filmes finos de manganita de Lântanio (LaMnO3)

• Ano de defesa: 2024
• Autor(a) principal: Silva, Alexandre Souza de
• Outros Autores: http://lattes.cnpq.br/4672756012383240, https://orcid.org/0009-0008-6496-6353
• Tipo de documento: Dissertação
• Tipo de acesso: Acesso aberto
• Idioma: por
• Instituição de defesa: Universidade Federal do Amazonas; Instituto de Ciências Exatas; Brasil; UFAM; Programa de Pós-graduação em Física
• Palavras-chave em Português: CIÊNCIAS EXATAS E DA TERRA; Filmes Finos; Manganita de Lântanio; Sol gel
• Link de acesso: https://tede.ufam.edu.br/handle/tede/10258

Este trabalho apresenta a caracterização detalhada de filmes finos de manganita de lantânio (LaMnO3), preparadas pelo método sol-gel. A investigação é de grande relevância devido ao seu potencial para aplicações em dispositivos eletrônicos, ópticos e magnéticos. Compreender suas propriedades estruturais, térmicas e morfológicas possibilita o desenvolvimento de materiais mais eficientes e funcionais, contribuindo para avanços significativos em tecnologias, como sensores, catalisadores e dispositivos de armazenamento de energia. Neste estudo o substrato foi seco e pré-sinterizado a 400°C e, em seguida, as amostras foram sinterizadas entre 650ºC e 850ºC. Através das análises termogravimétrica (TG) e de análise térmica diferencial (DTA), determinou-se a temperatura de transição de fase da manganita de lantânio, a qual foi observada como superior a 650°C. Com base na análise de FTIR foi possível constatar os principais grupos funcionais, tais como, vibrações Mn – O – Mn, grupos carboxílicos e ligações O – H. Da análise de DRX, padrões espaciais em função da temperatura de sinterização dos filmes foram obtidos e foi verificado que as amostras sinterizadas entre 700°C e 800°C apresentam uma fase ortorrômbica com simetria Pbnm. A morfologia da superfície dos filmes finos foi analisada pelas técnicas de Microscopia Eletrônica de Varredura (MEV) e de Microscopia de Força Atômica (AFM). As imagens mostram a formação de superfícies homogêneas, sem fraturas e com tamanho de grão médio que varia em torno de 200 e 300 nm. A rugosidade média das superfícies varia de 1,9 nm a 7 nm. Os resultados obtidos neste estudo destacam a importância das condições de processamento, especialmente as temperaturas de sinterização, na formação e nas propriedades dos filmes finos de LaMnO3.