Uso da técnica de EDXRF na análise de gemas semi preciosas brasileiras

• Ano de defesa: 2017
• Autor(a) principal: Rezier, Ayxa Nara de Souza
• Tipo de documento: Dissertação
• Tipo de acesso: Acesso aberto
• Idioma: por
• Instituição de defesa: Universidade do Estado do Rio de Janeiro; Centro de Tecnologia e Ciências::Instituto Politécnico; BR; UERJ; Programa de Pós-Graduação em Ciência e Tecnologia de Materiais
• Palavras-chave em Português: Fluorescence; XRF; Gems; X-Ray; Characterization; Fluorescência; Raios X; Caracterização; Pedras preciosas; Gemas (Mineralogia); CNPQ::ENGENHARIAS::ENGENHARIA NUCLEAR::APLICACOES DE RADIOISOTOPOS
• Link de acesso: http://www.bdtd.uerj.br/handle/1/8041

O Brasil é um dos maiores e mais importantes produtores de gemas do planeta, além de destacar-se pela qualidade e variedade gemológica. Possui um amplo e diversificado cenário produtivo abrangendo principalmente o mercado externo, tendo como principais setores de consumo a joalheria e a indústria de lapidação, além de uma ampla gama de utilização nas indústrias eletrônica, siderúrgica, elétrica, óptica, instrumentação, artesanato e agricultura. Com o avanço tecnológico, os estudos e pesquisas mineralógicos são de extrema importância para o entendimento das propriedades físico-químicas, a identificação e a caracterização química e estrutural das gemas, pois o emprego das gemas na indústria é função da sua composição elementar. No projeto desenvolvido, foram realizadas caracterizações elementares em amostras de algumas gemas brasileiras mediante a utilização da técnica de Fluorescência de Raios X por Dispersão em Energia (EDXRF). A determinação qualitativa de elementos teve como objetivo principal de analisar e verificar possíveis presenças de elementos e impurezas que não fazem parte da composição elementar pertencente à classe dos silicatos e carbonatos. As análises foram realizadas em dois equipamentos portáteis diferentes, o mini-XRF da Amptek® e o ARTAX 200 da Bruker®, com programas de aquisição e análise dos dados desses fabricantes. Os minerais analisados foram: Ametista, Calcita laranja, Ônix, Jade, Citrino, Quartzo incolor, Quartzo leitoso, Quartzo azul, Quartzo verde e Quartzo rosa. Verificou-se a existência de íons metálicos, em especial metais de transição como Ti, Cr, Mn, Fe, Co, Ni e Cu. As possíveis razões para a existência destes íons são discutidas no trabalho. Os dados das análises elementares por EDXRF indicam coerência nas composições elementares obtidos com os dois sistemas portáteis de XRF e observa-se que ambos apresentam eficiência em relação aos elementos analisados, indicando que a técnica pode ser utilizada para auxiliar no desenvolvimento de estudos mineralógicos.