Estudo do método da perturbação modal aplicado a estruturas dielétricas laminares.

• Ano de defesa: 2016
• Autor(a) principal: Jorge, Francisco Simón Sanchís
• Tipo de documento: Dissertação
• Tipo de acesso: Acesso aberto
• Idioma: por
• Instituição de defesa: Universidade do Estado do Rio de Janeiro; Centro de Tecnologia e Ciências::Faculdade de Engenharia; BR; UERJ; Programa de Pós-Graduação em Engenharia Eletrônica
• Palavras-chave em Português: Modal perturbation method; Dielectric slabs; Dielectric waveguides; Effective permittivity method; Low contrast; High contrast; Coupled-mode; Engenharia Eletrônica; Telecomunicações; Guias de ondas dielétricos; Método da perturbação modal; Estruturas dielétricas laminares; Guias dielétricos; Método da permissividade efetiva; Baixo contraste; Alto contraste; Teoria de modos acoplados; CNPQ::ENGENHARIAS
• Link de acesso: http://www.bdtd.uerj.br/handle/1/11837

Este trabalho analisa acoplamentos de guias dielétricos pela técnica da perturbação modal (modos acoplados). A abordagem é generalizada, isto é, aplicável a quaisquer estruturas constituídas por diferentes tipos e números de guias dielétricos. Os fatores fundamentais do acoplamento entre os guias são calculados e os resultados de algumas estruturas confirmados com os publicados na literatura. Embora a teoria seja geral, nesse estudo, limitou-se às estruturas de duas lâminas dielétricas acopladas. A intenção dessa abordagem foi a de se ter uma perfeita compreensão da aplicabilidade do método, para, em trabalhos futuros, usá-lo em estruturas complexas; cristais fotônicos; acoplamentos de diversas fibras ópticas, etc. O método da permissividade efetiva foi desenvolvido, também, sem restrição, com o objetivo de completar a programação do método da perturbação modal. No que diz respeito à análise das lâminas isoladas.