[pt] DESENVOLVIMENTO DE UM SISTEMA DE TESTES EM ARQUITETURA DE MULTIMICROPROCESSAMENTO
| Ano de defesa: | 2008 |
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| Autor(a) principal: | |
| Orientador(a): | |
| Banca de defesa: | |
| Tipo de documento: | Tese |
| Tipo de acesso: | Acesso aberto |
| Idioma: | por |
| Instituição de defesa: |
MAXWELL
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| Programa de Pós-Graduação: |
Não Informado pela instituição
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| Departamento: |
Não Informado pela instituição
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| País: |
Não Informado pela instituição
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| Palavras-chave em Português: | |
| Link de acesso: | https://www.maxwell.vrac.puc-rio.br/colecao.php?strSecao=resultado&nrSeq=11115&idi=1 https://www.maxwell.vrac.puc-rio.br/colecao.php?strSecao=resultado&nrSeq=11115&idi=2 http://doi.org/10.17771/PUCRio.acad.11115 |
Resumo: | [pt] Os testes realizados em equipamentos periféricos de computadores, após a fase de montagem, são geralmente complexos e demorados. Assim sendo, é necessário que várias máquinas sejam testadas simultaneamente, evitando- se a formação de um congestionamento na linha de produção. Em vista disso, partiu-se para a elaboração de um sistema de testes, organizado numa arquitetura de multimicroprocessamento tipo mestre-escravo, sendo mestre microcomputador e os escravos unidades processadoras autônomas inteligentes. Este sistema é capaz de testar várias máquinas em paralelo, mantendo a relação unidade produzidas versus tempo elevada, sem prejudicar a qualidade dos produtos. O trabalho aqui apresentado desenvolve o hardware e o software do sistema e mostra a sua aplicação como sistema de teste de transportadores de fita magnética. |