[pt] CARACTERIZAÇÃO DA FASE GAMA LINHA EM SUPERLIGAS A BASE DE NÍQUEL POR ANÁLISE DIGITAL DE IMAGENS
Ano de defesa: | 2005 |
---|---|
Autor(a) principal: | |
Orientador(a): | |
Banca de defesa: | |
Tipo de documento: | Tese |
Tipo de acesso: | Acesso aberto |
Idioma: | por |
Instituição de defesa: |
MAXWELL
|
Programa de Pós-Graduação: |
Não Informado pela instituição
|
Departamento: |
Não Informado pela instituição
|
País: |
Não Informado pela instituição
|
Palavras-chave em Português: | |
Link de acesso: | https://www.maxwell.vrac.puc-rio.br/colecao.php?strSecao=resultado&nrSeq=6232&idi=1 https://www.maxwell.vrac.puc-rio.br/colecao.php?strSecao=resultado&nrSeq=6232&idi=2 http://doi.org/10.17771/PUCRio.acad.6232 |
Resumo: | [pt] Este trabalho consiste na caracterização da fase gama linha em superligas de níquel através do processamento e análise digital de imagens. Amostras de uma superliga de níquel foram submetidas a 10 tratamentos térmicos diferentes. Após o tratamento térmico, estas amostras foram preparadas para avaliação metalográfica e imagens da microestrutura foram adquiridas no microscópio eletrônico de varredura (MEV). A fase gama linha presente no material foi segmentada e posteriormente medida através do processamento digital de imagens. Foram analisadas 429 imagens, o que gerou medidas de mais de 225,000 partículas. Foi medida a fração de área ocupada pelas partículas de gama linha, a quantidade de partículas por imagem, a área de cada partícula e a razão de aspectos das partículas. Uma análise estatística dos resultados foi realizada. Os resultados mostraram menor concentração e maior tamanho de gama linha com o aumento da temperatura, conforme era esperado. O uso de análise digital de imagens permitiu obter medidas com altíssima confiabilidade, uma vez que a alta velocidade de análise permite uma amostragem muito superior às técnicas tradicionais de caracterização microestrutural. |