[en] LOW COHERENCE OPTICAL REFLECTOMETRY

Detalhes bibliográficos
Ano de defesa:	2006
Autor(a) principal:	JOSE AUGUSTO PEREIRA DA SILVA
Orientador(a):	Não Informado pela instituição
Banca de defesa:	Não Informado pela instituição
Tipo de documento:	Tese
Tipo de acesso:	Acesso aberto
Idioma:	por
Instituição de defesa:	MAXWELL
Programa de Pós-Graduação:	Não Informado pela instituição
Departamento:	Não Informado pela instituição
País:	Não Informado pela instituição
Palavras-chave em Português:	[pt] OPTOELETRONICA [pt] REFLECTOMETRIA OPTICA [en] OPTOELECTRONICS [en] OPTICAL REFLECTOMETRY
Link de acesso:	https://www.maxwell.vrac.puc-rio.br/colecao.php?strSecao=resultado&nrSeq=8655&idi=1 https://www.maxwell.vrac.puc-rio.br/colecao.php?strSecao=resultado&nrSeq=8655&idi=2 http://doi.org/10.17771/PUCRio.acad.8655
Resumo:	[pt] Reflectometria óptica de baixa coerência tem se tornado uma importante ferramenta para a caracterização de componentes ópticos e optoeletrônicos integrados, cujas dimensões são micrométricos. Este trabalho inclui os princípios básicos de reflectometria, um estudo aprofundado de reflectometria óptica de baixa coerência, uma revisão das técnicas demonstradas na literatura cientifíca e suas resoluções e, principalmente, uma nova topologia na montagem experimental. Esta nova topologia permite que as mediadas sejam feitas de maneira mais simples e eficaz. A resolução obtida ficou tão boa que permitiu a visualização dos modos de propagação TE E TM na cavidade de um laser semicondutor.

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