Um estudo comparativo entre o teste de mutação e o MC/DC no desenvolvimento de software aeronáutico, utilizando-se o paradigma "Model Based Design"

Detalhes bibliográficos
Ano de defesa: 2009
Autor(a) principal: Leonardo Matsumoto Rosendo dos Santos
Orientador(a): Não Informado pela instituição
Banca de defesa: Não Informado pela instituição
Tipo de documento: Dissertação
Tipo de acesso: Acesso aberto
Idioma: por
Instituição de defesa: Instituto Tecnológico de Aeronáutica
Programa de Pós-Graduação: Não Informado pela instituição
Departamento: Não Informado pela instituição
País: Não Informado pela instituição
Palavras-chave em Português:
Link de acesso: http://www.bd.bibl.ita.br/tde_busca/arquivo.php?codArquivo=1291
Resumo: O teste de software é uma atividade essencial para verificação da qualidade do produto. A grande dificuldade, porém, é a impossibilidade de se testar todos os estados que o software pode assumir, tornando-se necessário desenvolver heurísticas para atividade de teste, de forma que seja testado um subconjunto dos estados tomado como representativo. Para isto, deve-se saber avaliar o quão aceitável está o conjunto de testes. Os critérios de adequação de teste estabelecem um conjunto mínimo de regras que devem ser satisfeitas pelo conjunto de teste, de forma a analisar sua adequação, ou sua necessidade de refinamento. Dentre os critérios de adequação de teste, serão abordados neste trabalho o MC/DC (Modified Condition / Decision Coverage) e o Teste de Mutação, fazendo-se uma comparação entre ambos através da propriedade de inclusão. Pretende-se demonstrar que o Teste de Mutação, com o projeto de alguns operadores de mutação específicos, é capaz de incluir o MC/DC. A discussão é trazida para o nível dos requisitos sob a forma de modelos, que antecipa a utilização dos critérios para uma etapa anterior à geração de código no desenvolvimento de software. Será desenvolvido um algoritmo gerador de mutantes em modelos gerados na ferramenta SCADE de tal forma que ao matarem-se todos os modelos mutantes, automaticamente o MC/DC no modelo original será satisfeito.