Perin, A. L. (2016). Confiabilidade de dispositivos CMOS submetidos à radiação e campo magnético.
Referência de acordo com a norma ChicagoPerin, André Luiz. Confiabilidade De Dispositivos CMOS Submetidos à Radiação E Campo Magnético. 2016.
Referência de acordo com a norma MLAPerin, André Luiz. Confiabilidade De Dispositivos CMOS Submetidos à Radiação E Campo Magnético. 2016.
Nota: a formatação da citação pode não corresponder 100% ao definido pela respectiva norma, para gerenciar as citações recomenda-se a utilização do software Zotero
, que permite o upload automático das referências do Oasisbr.