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1
Microscopia fototérmica de reflexão aplicada à caracterização de dispositivos microeletrônicos
Por
Batista
,
Jerias
Alves
Publicado em 1996
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Dissertação
2
Detecção de defeitos em estruturas semicondutoras através da microscopia fototérmica de reflexão : a interferência optotérmica e o aumento de contraste
Por
Batista
,
Jerias
Alves
Publicado em 2001
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