Mori, C. A. B., Agopian, P. G. D. [., Martino, J. A., & IEEE. (2017). New method for observing self-heating effect using transistor efficiency signature.
Referência de acordo com a norma ChicagoMori, C. A. B., P. G. D. [UNESP] Agopian, J. A. Martino, e IEEE. New Method for Observing Self-heating Effect Using Transistor Efficiency Signature. 2017.
Referência de acordo com a norma MLAMori, C. A. B., P. G. D. [UNESP] Agopian, J. A. Martino, e IEEE. New Method for Observing Self-heating Effect Using Transistor Efficiency Signature. 2017.
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