Cerqueira, M. F., Ferreira, J. A., & Adriaenssens, G. J. (2000). Structural studies and influence of the structure on the electrical and optical properties of microcrystalline silicon thin films produced by RF sputtering.
Referência de acordo com a norma ChicagoCerqueira, M. F., J. A. Ferreira, e G. J. Adriaenssens. Structural Studies and Influence of the Structure On the Electrical and Optical Properties of Microcrystalline Silicon Thin Films Produced By RF Sputtering. 2000.
Referência de acordo com a norma MLACerqueira, M. F., J. A. Ferreira, e G. J. Adriaenssens. Structural Studies and Influence of the Structure On the Electrical and Optical Properties of Microcrystalline Silicon Thin Films Produced By RF Sputtering. 2000.
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