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Utilização de testes metalográficos (cross-section, dye pry e raio x) para análise de causa raiz de defeito: estudo de caso em uma empresa de manufatura de placa de computador
Por
Terra, Nathália Mattos
Publicado em 2024
Acessar documento
Dissertação
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Instituição de defesa
Universidade Federal do Amazonas (UFAM)
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Bases coletadas
Biblioteca Digital de Teses e Dissertações da UFAM
1
Autor
Terra, Nathália Mattos
1
https://lattes.cnpq.br/1591659751025899
1
Tipo de documento
Dissertação
1
Tipo de acesso
openAccess
1
Idioma
Português
1
Assunto
.
1
Cross section
1
Dyepry
1
ENGENHARIAS: ENGENHARIA DE PRODUCAO: GERENCIA DE PRODUCAO: GARANTIA DE CONTROLE DE QUALIDADE
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Engenharia da qualidade
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