Ribeiro Júnior, S. (2013). Desenvolvimento de metodologia para análise de arborescências em materiais dielétricos por contraste de fase de raios X.
Referência de acordo com a norma ChicagoRibeiro Júnior, Sebastião. Desenvolvimento De Metodologia Para Análise De Arborescências Em Materiais Dielétricos Por Contraste De Fase De Raios X. 2013.
Referência de acordo com a norma MLARibeiro Júnior, Sebastião. Desenvolvimento De Metodologia Para Análise De Arborescências Em Materiais Dielétricos Por Contraste De Fase De Raios X. 2013.
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