Desenvolvimento da microscopia holográfica digital por reflexão para avaliação 3D de superfícies. - Valin Fernández, Meylí (2017)
Dentre dos procedimentos geradores de perfil óptico encontra-se a microscopia holográfica digital. Esta ferramenta interferométrica surgiu da ideia inicial proposta por D. Gabor sobre holografia, a qual permite mediante o registro da interferência de campos ópticos coerentes, guardar e extrair informações de imagens. A microscopia holográfica digital permite a análise de objetos com resoluções transversais semelhantes às obtidas por microscopia óptica, e ainda, possui a vantagem pela natureza da holografia de permitir realizar análises através do acesso a valores quantitativos de fase. Apresentam-se neste trabalho os conceitos básicos da holografia digital e da microscopia holográfica digital, com o objetivo, de introduzir o desenvolvimento de uma metodologia para a implementação da microscopia holográfica digital por reflexão para o controle dimensional de objetos e determinação da rugosidade superficial de amostras de aço. Os hologramas são obtidos mediante uma instalação óptica, que consiste em um interferômetro de Michelson por reflexão com o uso de uma lente objetiva de microscópio e uma câmera CCD sem lente. Para a reconstrução das imagens de contraste de fase são utilizadas técnicas numéricas que capacitam à microscopia holográfica digital para a supressão do termo de ordem zero, controle da resolução de pixel, desmodulação da fase óptica, determinação dos mapas de intensidades e fase, filtragem e compensação de aberrações dos hologramas obtidos. As reconstruções numéricas dos feixes objeto e referência são realizadas utilizando o método de dupla propagação. Foi desenvolvido um algoritmo que apresenta a imagem de contraste de fase com base num critério de distância a partir de um único holograma. Desta forma o programa utilizado permite a realização de medições quantitativas das dimensões dos objetos e da rugosidade superficial de amostras de aço, assim como, a representação em 3D da imagem de fase reconstruída com resultados validados através de um perfilômetro óptico 3D sem contacto modelo CCI-MP.