Nogueira, W. A. (1999). Estudo experimental da ruptura da rigidez dielétrica em óxido de porta MOS crescidos por RTO.
Referência de acordo com a norma ChicagoNogueira, Willian Aurelio. Estudo Experimental Da Ruptura Da Rigidez Dielétrica Em óxido De Porta MOS Crescidos Por RTO. 1999.
Referência de acordo com a norma MLANogueira, Willian Aurelio. Estudo Experimental Da Ruptura Da Rigidez Dielétrica Em óxido De Porta MOS Crescidos Por RTO. 1999.
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