Sonnenberg, V. (2001). Novos métodos para a determinação de parâmetros da tecnologia SOI através de capacitores.
Referência de acordo com a norma ChicagoSonnenberg, Victor. Novos Métodos Para a Determinação De Parâmetros Da Tecnologia SOI Através De Capacitores. 2001.
Referência de acordo com a norma MLASonnenberg, Victor. Novos Métodos Para a Determinação De Parâmetros Da Tecnologia SOI Através De Capacitores. 2001.
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