Santos, J. T. d. (1996). Caracterização por microscopia eletrônica de transmissão de camadas de silicetos de ferro superficiais e enterradas formadas por técnicas de crescimento epitaxial.
Referência de acordo com a norma ChicagoSantos, Jarbas Tavares dos. Caracterização Por Microscopia Eletrônica De Transmissão De Camadas De Silicetos De Ferro Superficiais E Enterradas Formadas Por Técnicas De Crescimento Epitaxial. 1996.
Referência de acordo com a norma MLASantos, Jarbas Tavares dos. Caracterização Por Microscopia Eletrônica De Transmissão De Camadas De Silicetos De Ferro Superficiais E Enterradas Formadas Por Técnicas De Crescimento Epitaxial. 1996.
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