Referência de acordo com a norma APA

Both, T. H. (2013). Análise dos efeitos de dose total ionizante em transistores CMOS tecnologia 0,35 μm.

Referência de acordo com a norma Chicago

Both, Thiago Hanna. Análise Dos Efeitos De Dose Total Ionizante Em Transistores CMOS Tecnologia 0,35 μm. 2013.

Referência de acordo com a norma MLA

Both, Thiago Hanna. Análise Dos Efeitos De Dose Total Ionizante Em Transistores CMOS Tecnologia 0,35 μm. 2013.

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