Referência de acordo com a norma APA

Copetti, T. S. (2021). Reliability evaluation of finFET-based SRAMs in the presence of resistive defects.

Referência de acordo com a norma Chicago

Copetti, Thiago Santos. Reliability Evaluation of FinFET-based SRAMs in the Presence of Resistive Defects. 2021.

Referência de acordo com a norma MLA

Copetti, Thiago Santos. Reliability Evaluation of FinFET-based SRAMs in the Presence of Resistive Defects. 2021.

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