Paris, L. A. d. (2017). Análise e mitigação dos efeitos da eletromigração em interconexões metálicas de circuitos integrados.
Referência de acordo com a norma ChicagoParis, Lucas André de. Análise E Mitigação Dos Efeitos Da Eletromigração Em Interconexões Metálicas De Circuitos Integrados. 2017.
Referência de acordo com a norma MLAParis, Lucas André de. Análise E Mitigação Dos Efeitos Da Eletromigração Em Interconexões Metálicas De Circuitos Integrados. 2017.
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