Zimpeck, A. L. (2019). Circuit-level approaches to mitigate the process variability and soft errors in finFET logic cells.
Referência de acordo com a norma ChicagoZimpeck, Alexandra Lackmann. Circuit-level Approaches to Mitigate the Process Variability and Soft Errors in FinFET Logic Cells. 2019.
Referência de acordo com a norma MLAZimpeck, Alexandra Lackmann. Circuit-level Approaches to Mitigate the Process Variability and Soft Errors in FinFET Logic Cells. 2019.
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