Herança da resistência a oídio em ervilha e aspectos relacionados à patogênese - Santos, Ricardo Lima dos [UNESP] (2010)
A ervilha (Pisum sativum L.) é um dos alimentos mais produzidos no mundo. Uma das principais doenças que ocorrem na cultura é o oídio, causada por Erysiphe pisi DC. O controle da doença tem sido realizado por meio de pulverizações com fungicidas, no entanto, o uso de cultivares resistentes deve ser pensado como uma alternativa viável e de efetivo controle no manejo da doença. O trabalho objetivou elucidar a herança da resistência ao oídio na cultivar de ervilha MK-10 e caracterizar alguns aspectos histológicos da infecção de E. pisi nessa cultivar. Para o estudo da herança, as gerações F1, F2, retrocuzamentos e geração F3 de MK-10 com duas populações suscetíveis foram avaliadas em ambiente protegido e a epidemia foi aberta. Nas avaliações histológicas, os seguintes parâmetros foram avaliados: % de germinação dos conídios, % de conídios germinados que formaram apressório, % de conídios germinados com apressório que estabeleceram colônia (% colonização) e número de haustórios por colônia. Para comparar as razões de segregação obtidas no estudo da herança da resistência, adotou-se o teste do Qui-quadrado (X²) e para os dados das análises histológicas, utilizou-se o teste Tukey a 5% de probabilidade. Com base nas segregações obtidas no estudo da herança e nas análises histológicas realizadas, concluiu-se que a resistência de MK-10 ao oídio é devida a um par de alelos recessivos, provavelmente o er1er1 e que a resistência é expressa na fase de pré-penetração, completada por uma morte celular localizada pós-penetração.