Referência de acordo com a norma APA

Hayashi, M. A. (1999). Difração múltipla de raios-X no estudo de ordenamento em ligas semicondutoras e defeitos em semicondutores implantados.

Referência de acordo com a norma Chicago

Hayashi, Marcelo Assaoka. Difração Múltipla De Raios-X No Estudo De Ordenamento Em Ligas Semicondutoras E Defeitos Em Semicondutores Implantados. 1999.

Referência de acordo com a norma MLA

Hayashi, Marcelo Assaoka. Difração Múltipla De Raios-X No Estudo De Ordenamento Em Ligas Semicondutoras E Defeitos Em Semicondutores Implantados. 1999.

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