Referência de acordo com a norma APA

Hayashi, M. A. (1995). Difração múltipla de raios-x no estudo de defeitos superficiais em semicondutores com implantação iônica.

Referência de acordo com a norma Chicago

Hayashi, Marcelo Assaoka. Difração Múltipla De Raios-x No Estudo De Defeitos Superficiais Em Semicondutores Com Implantação Iônica. 1995.

Referência de acordo com a norma MLA

Hayashi, Marcelo Assaoka. Difração Múltipla De Raios-x No Estudo De Defeitos Superficiais Em Semicondutores Com Implantação Iônica. 1995.

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