Referência de acordo com a norma APA

Morelhão, S. L. (1994). Propriedades estruturais, densidade de deslocações e análise de defeitos superficiais em heteroestruturas semicondutoras por difração múltipla de raios-x.

Referência de acordo com a norma Chicago

Morelhão, Sergio Luiz. Propriedades Estruturais, Densidade De Deslocações E Análise De Defeitos Superficiais Em Heteroestruturas Semicondutoras Por Difração Múltipla De Raios-x. 1994.

Referência de acordo com a norma MLA

Morelhão, Sergio Luiz. Propriedades Estruturais, Densidade De Deslocações E Análise De Defeitos Superficiais Em Heteroestruturas Semicondutoras Por Difração Múltipla De Raios-x. 1994.

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