Referência de acordo com a norma APA

Lopes, M. C. V. (2000). Estudo da rugosidade eletronica em capacitores MOS nanometricos.

Referência de acordo com a norma Chicago

Lopes, Manoel Cesar Valente. Estudo Da Rugosidade Eletronica Em Capacitores MOS Nanometricos. 2000.

Referência de acordo com a norma MLA

Lopes, Manoel Cesar Valente. Estudo Da Rugosidade Eletronica Em Capacitores MOS Nanometricos. 2000.

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