Antunes, V. G. (2018). Estudo da interface TiN/silício cristalino por espectroscopia de elétrons fotoemitidos por raios-X (XPS).
Referência de acordo com a norma ChicagoAntunes, Vinícius Gabriel. Estudo Da Interface TiN/silício Cristalino Por Espectroscopia De Elétrons Fotoemitidos Por Raios-X (XPS). 2018.
Referência de acordo com a norma MLAAntunes, Vinícius Gabriel. Estudo Da Interface TiN/silício Cristalino Por Espectroscopia De Elétrons Fotoemitidos Por Raios-X (XPS). 2018.
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