Referência de acordo com a norma APA

Cavalcanti, L. P. (1995). Caracterização de filmes finos por difração de raios-X com baixo ângulo de incidência.

Referência de acordo com a norma Chicago

Cavalcanti, Leide Passos. Caracterização De Filmes Finos Por Difração De Raios-X Com Baixo ângulo De Incidência. 1995.

Referência de acordo com a norma MLA

Cavalcanti, Leide Passos. Caracterização De Filmes Finos Por Difração De Raios-X Com Baixo ângulo De Incidência. 1995.

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