Batista, J. A. (1996). Microscopia fototérmica de reflexão aplicada à caracterização de dispositivos microeletrônicos.
Referência de acordo com a norma ChicagoBatista, Jerias Alves. Microscopia Fototérmica De Reflexão Aplicada à Caracterização De Dispositivos Microeletrônicos. 1996.
Referência de acordo com a norma MLABatista, Jerias Alves. Microscopia Fototérmica De Reflexão Aplicada à Caracterização De Dispositivos Microeletrônicos. 1996.
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