Teani, C. R. N. (1998). Teste parametricos de circuitos integrados, uma abordagem sistemica baseada na dinamica não linear.
Referência de acordo com a norma ChicagoTeani, Carlos Roberto Negrão. Teste Parametricos De Circuitos Integrados, Uma Abordagem Sistemica Baseada Na Dinamica Não Linear. 1998.
Referência de acordo com a norma MLATeani, Carlos Roberto Negrão. Teste Parametricos De Circuitos Integrados, Uma Abordagem Sistemica Baseada Na Dinamica Não Linear. 1998.
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