Batista, J. A. (2001). Detecção de defeitos em estruturas semicondutoras através da microscopia fototérmica de reflexão: A interferência optotérmica e o aumento de contraste.
Referência de acordo com a norma ChicagoBatista, Jerias Alves. Detecção De Defeitos Em Estruturas Semicondutoras Através Da Microscopia Fototérmica De Reflexão: A Interferência Optotérmica E O Aumento De Contraste. 2001.
Referência de acordo com a norma MLABatista, Jerias Alves. Detecção De Defeitos Em Estruturas Semicondutoras Através Da Microscopia Fototérmica De Reflexão: A Interferência Optotérmica E O Aumento De Contraste. 2001.
Nota: a formatação da citação pode não corresponder 100% ao definido pela respectiva norma, para gerenciar as citações recomenda-se a utilização do software Zotero
, que permite o upload automático das referências do Oasisbr.