Fukui, M. (1992). Tecnicas de microscopia de tunelamento de eletrons (MTE) e microscopia de força atomica (MFA) aplicadas ao estudo desuperficies de grafite e diamante.
Referência de acordo com a norma ChicagoFukui, Marcelo. Tecnicas De Microscopia De Tunelamento De Eletrons (MTE) E Microscopia De Força Atomica (MFA) Aplicadas Ao Estudo Desuperficies De Grafite E Diamante. 1992.
Referência de acordo com a norma MLAFukui, Marcelo. Tecnicas De Microscopia De Tunelamento De Eletrons (MTE) E Microscopia De Força Atomica (MFA) Aplicadas Ao Estudo Desuperficies De Grafite E Diamante. 1992.
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