Rodrigues, A. d. N. (2018). Estudo de comutação resistiva em filmes finos de Al2O3 e ZnO para aplicação em dispositivos de “memória resistiva de acesso aleatório” (RRAM) e interruptor eletrônico (IE).
Referência de acordo com a norma ChicagoRodrigues, Aline do Nascimento. Estudo De Comutação Resistiva Em Filmes Finos De Al2O3 E ZnO Para Aplicação Em Dispositivos De “memória Resistiva De Acesso Aleatório” (RRAM) E Interruptor Eletrônico (IE). 2018.
Referência de acordo com a norma MLARodrigues, Aline do Nascimento. Estudo De Comutação Resistiva Em Filmes Finos De Al2O3 E ZnO Para Aplicação Em Dispositivos De “memória Resistiva De Acesso Aleatório” (RRAM) E Interruptor Eletrônico (IE). 2018.
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