Gavinho, L. G. (2005). Novo método de caracterização de ondulações em superfícies por difração de raios X.
Referência de acordo com a norma ChicagoGavinho, Luciano Gillieron. Novo Método De Caracterização De Ondulações Em Superfícies Por Difração De Raios X. 2005.
Referência de acordo com a norma MLAGavinho, Luciano Gillieron. Novo Método De Caracterização De Ondulações Em Superfícies Por Difração De Raios X. 2005.
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