Análise estatística de processos pontuais bivariados ligados - Danilo Lourenço Lopes (2008)
Este trabalho considera uma nova classe especial de processos pontuais espaciais marcados, os processos pontuais bivariados ligados. Para cada evento de um padrão pontual N1 existem um ou mais eventos correspondentes em outro padrão pontual N2 , observando na mesma região geográfica. Pares de eventos de origem-destino são os exemplos mais comuns para esse tipo de dados. Um teste de correlação espacial entre os dois padrões pontuais é desenvolvido e, a partir de uma proposta simplificadora, alguns resultados úteis foram obtidos. Sugerimos um modelo de Gibbs para estes processos pontuais bivariados ligados, derivamos algumas estatísticas descritivas das propriedades do modelo e, em seguida, apresentamos métodos para simular, testar e estimar tais processos. Desenvolvemos uma ferramenta de análise exploratória gráfica -MaPPEA- para a visualização dos gráficos ligados dinâmicos apresentados. Esta ferramenta foi desenvolvida em C ++ com uma interface gráfica para auxiliar o usuário na análise estatística dos dados. A partir do "brushing" de janelas linkadas, MaPPEA fornece uma ilustração da estrutura e relações entre marcas e coordenadas de padrões pontuais. As principais funções incluídas neste software são a função de distribuição das marcas e a superfície de intensidade condicional das posições de destino correspondente a uma posição de origem selecionada, ambas mudando dinamicamente. Os métodos são ilustrados com dados de furto de veículos e a eventuais recuperações dos mesmos, bem como com dados de posições de árvores e suas marcas correspondentes.