Nascimento, R. d. S. (2020). Patentometria: Estudo de múltiplos casos sobre a utilização de dados contidos em patentes como mecanismo de auxílio na gestão da inovação dos NITs.
Referência de acordo com a norma ChicagoNascimento, Raphael da Silva. Patentometria: Estudo De Múltiplos Casos Sobre a Utilização De Dados Contidos Em Patentes Como Mecanismo De Auxílio Na Gestão Da Inovação Dos NITs. 2020.
Referência de acordo com a norma MLANascimento, Raphael da Silva. Patentometria: Estudo De Múltiplos Casos Sobre a Utilização De Dados Contidos Em Patentes Como Mecanismo De Auxílio Na Gestão Da Inovação Dos NITs. 2020.
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