Métodos de testes de conversores analógico para informação baseados no padrão IEEE 1241. - SILVA, Veronica Maria Lima. (2019)
A etapa de teste de circuitos integrados é um estágio importante na fabricação e fundamental na comercialização desses, pois nessa etapa são avaliados quais circuitos apresentam defeitos e quais são considerados aptos a serem comercializados. Nos circuitos integrados mistos, tais como os conversores analógico-digitais (ADC) que fazem a interface entre as partes analógicas e digitais dos sistemas eletrônicos, o teste é realizado pela medição de parâmetros como linearidade, ruído, entre outros. Para teste de ADC, existe o padrão IEEE 1241 que estabelece métodos de teste e seus procedimentos de avaliação de parâmetros estáticos e dinâmico de ADC. Um desses métodos é o método sine wave fit. Porém, existe um novo tipo de conversor, Conversor Analógico-para-Informação (AIC), que ainda não possui padrão de teste definido. O AIC implementa em termos práticos a Teoria da Amostragem Compressiva e fornece uma saída digitalizada e comprimida (y) correspondente diretamente ao sinal de entrada analógico (x). Um algoritmo de reconstrução, por sua vez, é necessário para obter um sinal reconstruído xˆ que calcule x a partir de y. Este algoritmo, geralmente, não faz parte do AIC em si e pode inclusive está distante do AIC interligado por um canal de comunicação a esse. Nos trabalhos científicos que focam em teste de AIC, em geral, o sinal reconstruído xˆ é avaliado para testar o próprio AIC e, em consequência, o desempenho do algoritmo de reconstrução pode afetar o resultado do teste do AIC. Os algoritmos de reconstrução implementam a resolução de um problema de otimização e são bastante sensíveis aos parâmetros de entrada, portanto não é interessante que o resultado do teste dependa desses algoritmos. Poucos trabalhos propõem métodos de teste que levam em conta apenas a saída direta do AIC (y). No entanto, eles levam em consideração um único sinal de teste (a senoide), que é um sinal de referência como descrito no padrão IEEE 1241 para testes de ADC. Nesta tese, dois novos métodos de teste para AIC são propostos, nos quais apenas as saídas do AIC, isto é, as saídas comprimidas y, são levadas em conta. No primeiro, aplicam-se sinais multi-tons (multi-senos) e, no segundo, foi desenvolvida uma adaptação do método sine wave fit de quatro parâmetros, também recomendado pelo Padrão IEEE 1241. Resultados experimentais e de simulação foram obtidos para duas arquiteturas de AIC diferentes (Demodulador Aleatório – RD e Pré-Integrador de Modulação Aleatória - RMPI) e a Relação Sinal-Ruído e Distorção (SINAD) de ambas foi medida diretamente da saída do AIC confirmando a funcionalidade dos métodos de teste AIC propostos.