Referência de acordo com a norma APA

Terra, N. M., & https://lattes.cnpq.br/1591659751025899. (2024). Utilização de testes metalográficos (cross-section, dye pry e raio x) para análise de causa raiz de defeito: Estudo de caso em uma empresa de manufatura de placa de computador.

Referência de acordo com a norma Chicago

Terra, Nathália Mattos, e https://lattes.cnpq.br/1591659751025899. Utilização De Testes Metalográficos (cross-section, Dye Pry E Raio X) Para Análise De Causa Raiz De Defeito: Estudo De Caso Em Uma Empresa De Manufatura De Placa De Computador. 2024.

Referência de acordo com a norma MLA

Terra, Nathália Mattos, e https://lattes.cnpq.br/1591659751025899. Utilização De Testes Metalográficos (cross-section, Dye Pry E Raio X) Para Análise De Causa Raiz De Defeito: Estudo De Caso Em Uma Empresa De Manufatura De Placa De Computador. 2024.

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